刘学森——司法鉴定人，失效分析领域专家。

曾经参与制定相关技术规范如：《电子电器产品覆铜板玻纤漏电失效物证鉴定技术规范》、《电气火灾一次短路和二次短路熔痕物证鉴定规范》、《电子电器产品系统级失效分析物证鉴定通用技术规范》、《电子元器件封装级失效分析物证鉴定通用技术规范》、《电子器件晶圆级电性异常失效分析物证鉴定通用技术规范》、《电子电器产品板级失效分析物证鉴定通用技术规范》等；

曾经发表学术论文《微量物证技术在钢化玻璃爆裂原因鉴定中的应用》、《微量物证技术在锂离子电池隔膜的质量鉴定中的应用》、《失效分析技术在开关电源质量鉴定中的应用》等十余篇。

曾申请并获得多项发明专利如：《集成电路缺陷定位测试系统及实现方法》、《一种PCB板失效分析方法》、《一种失效分析方法》等。

刘学森曾参与过的部分鉴定案例：
1、《LED模块中的电路板失效分析物证鉴定》
      详情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=72&fristid=329

2、《漏电断路器质量问题物证鉴定》
      详情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=65&fristid=331,338

3、《手机触摸屏是否具备相关技术特征的符合性物证鉴定》
      详情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=112&fristid=329

4、《安徽车辆起火原因物证鉴定》
      详情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=151&fristid=1,338

5、《对汽车继电器是否存在质量问题和火灾起火原因进行物证鉴定》

      详情：http://www.sfjdzx.com/anlixiangqing.asp?ncid=128&fristid=1,329,338